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垂直腔半导体光放大器中的等效反射率分析
其他题名Analysis of equivalent reflectivity of vertical-cavity semiconductor optical amplifiers
卢静1,2; 罗斌1
2018
发表期刊激光技术
ISSN1001-3806
卷号43期号:02页码:174-178
摘要为了优化垂直腔半导体光放大器(VCSOA)在不同应用中的性能,以及用通用计算方法获得准确的端面反射率,考虑到器件内部光场分布特点,采用角频谱理论和传输矩阵的方法,取得了器件中分布布喇格反射器(DBR)等效反射率与光束半值谱宽的数据,进行了理论分析和实验验证。结果表明,等效反射率随着结构周期增加而变大,但是当周期大于25时基本不再变化;与只考虑正入射情况相比,修正后的DBR等效反射率小了2%~4%;等效反射率随着半值谱宽θ_(FWHM)增大而减小。该研究为准确计算膜堆层数对DBR等效反射率的影响提供理论指导,优化了VCSOA的工作性能。
其他摘要In order to optimize the performance of vertical cavity semiconductor optical amplifiers (VCSOA) in different applications and obtain accurate reflectivity with the general calculation method, considering the characteristics of light field distribution inside the device, the equivalent reflectivity of the distributed Bragg reflector (DBR) and the full width at half maximum of the beam in the device were obtained by using angular spectrum theory and transmission matrix method. The theoretical analysis and experimental verification were carried out. The results show that the equivalent reflectivity increases with the increase of structure period. However, when the period is greater than 25, it will not change any more. Compared with the case of normal incidence only, the revised equivalent reflectivity of DBR is less 2%~4%. Equivalent reflectance decreases with the increase of full width at half maximum θFWHM. The study provides theoretical guidance for accurately calculating the effect of stack number on equivalent reflectivity of DBR and optimizing the performance of VCSOA.
关键词激光器 反射率 传输矩阵法 角频谱 垂直腔半导体光放大器 分布布喇格反射器
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收录类别北大核心 ; PKU ; CSCD ; ISTIC
语种中文
原始文献类型学术期刊
文献类型期刊论文
条目标识符https://ir.cqcet.edu.cn/handle/39TD4454/4933
专题电子与物联网学院
作者单位1.西南交通大学信息科学与技术学院;
2.重庆电子工程职业学院电子与物联网学院
第一作者单位重庆电子科技职业大学
推荐引用方式
GB/T 7714
卢静,罗斌. 垂直腔半导体光放大器中的等效反射率分析[J]. 激光技术,2018,43(02):174-178.
APA 卢静,&罗斌.(2018).垂直腔半导体光放大器中的等效反射率分析.激光技术,43(02),174-178.
MLA 卢静,et al."垂直腔半导体光放大器中的等效反射率分析".激光技术 43.02(2018):174-178.
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